Рассмотрены волновые методы дифракционного анализа атомно-кристаллического строения материалов с помощью рентгеновского,электронного и нейтронного излучений. Изложены основы теории дифракции волн на трехмерной решетке кристалла. Описаны принципы работы иустройств приборов дифрактометрии, просвечивающей и растровой электронной микроскопии. Обсуждаются особенности дифракции кристаллической решеткой разных видов излучения. Показаны возможности волновых методов контроля в практическом материаловедении: определение фазового состава, симметрии кристаллической структуры фаз и периодов их решетки; оценка размеров зерен и величины блоков; плотности и характера распределения дислокаций; установление областей существования твердых растворов на диаграмме состояния; определение ориентировки решетки монокристалла; анализ структурных превращений; внутренних напряжений и пр.

Учебное пособие предназначено для студентов вузов, обучающихся по направлениям подготовки: 553100, 551600, 651800 и 651300 специальностей: 120800, 070900 и 110500.