Настоящие методические указания к выполнению лабораторных работ по дисциплине "Рентгенография и электронная микроскопия" являются переработанным вторым изданием указаний с аналогичным названием, изданными в 1983г. (Основы рентгеноструктурного анализа, ч.1) и 1985г. (Анализ дефектов решетки и электронная микроскопия,ч.2). Описаны принципы работы и устройств приборов дифрактометрии, локального рентгеноспектрального анализа, просвечивающей электронной микроскопии, методики расчета рентгено-, дифракто- и электронограмм, контроль параметров и типа решеток Бравэ, тонкой структуры кристаллического вещества и его фазового состава. Указаны пакеты прикладных программ для IBM PС, разработанные и используемые кафедрой физики металлов и материаловедения Тульского государственного университета.

Методические указания предназначены для студентов вузов, обучающихся по направлениям подготовки: 651800 и 651300 специальностей: 070900 и 110500.